SN74BCT8374ADWR
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| 产品型号 | SN74BCT8374ADWR |
|---|---|
| 制造商 | Texas Instruments |
| 产品介绍 | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC 我们努力为客户提供 Texas Instruments品牌的产品SN74BCT8374ADWR 最有竞争力的供应链服务，请登录我们官网 www.allic.cn了解产品信息或联系我们销售代表 |
- 产品参数
- pdf参数资料
Product parameter
| Product Status | Obsolete | Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
|---|---|---|---|
| Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V | Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C | Mounting Type | Surface Mount |
| Package / Case | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) | Supplier Device Package | 24-SOIC |
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